Svepelektronmikroskopi, SEM analys

svepelektronmikroskopi, sem-analys

Ett elektronmikroskop kan användas som ett förstoringsglas; man kan se partiklar och
texturer som inte kan uppfattas med optisk mikroskopi (se exempelvis bilden högst upp till vänster).
Genom att utrusta elektronmikroskopet med en energidispersiv detektor (EDX) öppnas nya möjligheter att samla in information från den
mikroskopiska världen. En energidispersiv detektor ger kemisk information av ytor eller partiklar. Analys av en förorening i en produkt kan hjälpa till att hitta källan till föroreningen.
SEM-teknik med EDX är lämplig att använda för karakteriseringen av små luftburna partiklar eller partiklar som förekommer som föroreningar
i vatten eller i material. Vid partikelanalys av ett vätskeprov brukar partiklarna filtreras från vätskan. Fasta prover kan ibland kräva en mera
omfattande provberedning. En fördel med SEM-teknik är att endast en liten provmängd behövs för analyserna

Fiber analys med sem
Analyser av olika fibrer så som asbest eller keramiska fibrer är enkelt att upptäcka med SEM. Tack vare den höga upplösningen har vi möjlighet att upptäcka små fibrer jämfört med analyser utförda med fas kontrast mikroskop exemelvis. Med SEM kan vi utifrån fibrers kemiska sammansättning urskilja olika typer av fibrer.
 
Kontrollera din produktionsprocess med sem
Även små partiklar kan vara oönskade i din produktionsprocess. Med SEM kan vi hjäpa dig att identifiera olika föroreningar från tillverkningsprocessen. Tack vare SEM kan vi även hjälpa till att identifiera källan till föroreningen.

Nanopartiklar i luftfilter med sem

Bilden till vänster visar nanopartiklar som har fångats i ett luftfilter. Såväl fibrer som biologiska partiklar har hittats i detta filter. Många partiklar är mindre än 1 µm. Partiklar som är så här små, påverkar människor och genom att endast utföra en kemisk analys kan mycket information gå förlorad.
En kemisk analys kan hjälpa att identifiera mängden av olika metaller, men den kan inte visa vilken förening som den ingår i. Med SEM kan vi ta reda på vilken förening metallen tillhör och även hitta partikelns ursprung. Vidare kan vi med SEM få information om nanopartiklarnas sammanstättning, förutsatt att de är större än 0,2 µm. På bilden till har några av porerna i filtret en diameter på 0,4 µm!

Kemisk sammansättning av elektriska kretskort

Bilden till vänster visar olika distributioner av metaller på vissa delar av ett kretskort. Aluminium kan endast hittas via assosiationer med kisel, medan kisel även kan hittas genom hela plastdelar. Brom kan endast hittas i små plastmängder och inte i någon komponent. Ten och kalcium kan endast hittas i vissa komponenter.